Zobrazeno 1 - 10
of 131
pro vyhledávání: '"F. Richardeau"'
Publikováno v:
Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, 2023, 144, pp.114955. ⟨10.1016/j.microrel.2023.114955⟩
Microelectronics Reliability, 2023, 144, pp.114955. ⟨10.1016/j.microrel.2023.114955⟩
International audience; In reliability studies, the instability of the threshold voltage (Vth) is problematic when Vth is used as an indicator as it totally blurs an eventual drift due to real device aging. This instability is observed during electri
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1cb96c801ba33474e7adeb50754e1ddd
https://hal.science/hal-04049626
https://hal.science/hal-04049626
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
F. Richardeau, Y. Barazi
This paper proposes SiC MOSFET gate ageing-laws under repetitive short-circuit stress. Based on analytical studies, physical forms and preconditioning data, numerical fitting based on stress variables T j, T Pulse Gate Damage % and E sc is propose
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4d15619e6034d2b2dcd6b7c1389ca292
https://hal.science/hal-03789820
https://hal.science/hal-03789820
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.