Zobrazeno 1 - 10
of 98
pro vyhledávání: '"F. Hosokawa"'
Publikováno v:
Electron Microscopy and Analysis 1997 ISBN: 9781003063056
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::da0fef7290539fd7d5099508fbae6b9f
https://doi.org/10.1201/9781003063056-40
https://doi.org/10.1201/9781003063056-40
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 13
Autor:
N. Hirakawa, Y. Okuyami, J. Kiyono, S. Ishimoto, A. Nagami, K. Tokushige, F. Hosokawa, Hiroaki Watanabe
Publikováno v:
1985 IEEE International Solid-State Circuits Conference. Digest of Technical Papers.
This paper will describe a 64K×4 DRAM and a 256×4 serial readout memory with an access time of 35ns developed to provide graphic data pickup from any location. The ×4 DRAM port affords independent write capability for each bit in the word.
Autor:
K. Yasuda, K. Matsuya, T. Takihara, A. Ishizaka, K. Fukunaga, Y. Kawano, M. Egawa, H. Shitara, K. Tomomatsu, F. Jonsson, R. Takamiya, F. Hosokawa, T. Satoh, M. Nakahira, K. Niimi, D. A. Mancardi, K. Mukai, H. Ogura, S. Tanaka, T. Nabe, K. Ishiwata, N. Mizutani, P. Bruhns, B. Iannascoli, S. Nakae, T. Morishita, T. Oguma, M. Kubo, Y. Minegishi, D. D. Chaplin, C. Taya, N. Kamiishi, K. Oboki, M. Kodama, T. Yoshimoto, T. Wada, K. Sayama, T. Kambayashi, K. Obata, S. Yoshino, H. Yokozeki, J. Miyata, H. Tanaka, H. Karasuyama, K. Nakanishi, M. Sawaguchi, K. Tanaka, M. Fujii, N. Ohmari, K. Asano, N. Watanabe, S. Yoshikawa, K. Saeki, M. Daeron
Publikováno v:
International Immunology. 22:ii130-ii131
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 3:1103-1104
For the resolution estimation of the Imaging Plate (IP)-system, several methods were carried out. One of them is the measurement of the modulation transfer function (MTF) from the phase contrast transfer function taken with an amorphous Ge film speci
Publikováno v:
Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America. 53:662-663
Evaluation of the resolution of the Imaging Plate (IP) has been attempted by some methods. An evaluation method for IP resolution, which is not influenced by hard X-rays at higher accelerating voltages, was proposed previously by the present authors.
Publikováno v:
Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America. 51:202-203
High-resolution transmission electron microscopy must attain utmost accuracy in the alignment of incident beam direction and in astigmatism correction, and that, in the shortest possible time. As a method to eliminate this troublesome work, an automa