Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"F. Horreard"'
Publikováno v:
Applied Surface Science. :798-801
The Cameca Nanosims 50 has been designed to provide for parallel detection along a focal plane over a large mass range but spacing between adjacent mass lines makes it necessary to use miniature electron multipliers (EMs). A new version of a miniatur
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f958762b6cb3a00e5f0576aa06dade3d
https://doi.org/10.1016/s0169-4332(02)00826-7
https://doi.org/10.1016/s0169-4332(02)00826-7
Publikováno v:
2006 IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference.
This paper concentrates on the recent developments or breakthroughs of two main analytical techniques used in the field : SIMS and atom probe.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::59a80d38542d313bf6b89262949638cc
https://doi.org/10.1109/nmdc.2006.4388733
https://doi.org/10.1109/nmdc.2006.4388733
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. 28:C1C48-C1C53
This article presents investigation on secondary ion mass spectroscopy (SIMS) profile quantification for ultrashallow profiles. New configuration for the cesium and oxygen sources on the CAMECA IMS Wf tool-provides SIMS profiling capability at 150 eV
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::565ad614478d3ad03e7d4a8414856d98
https://doi.org/10.1116/1.3225588
https://doi.org/10.1116/1.3225588
Autor:
V. Paret, C. Hombourger, R. Benbalagh, J. Choi, M. Schuhmacher, H.-U. Ehrke, N. Loibl, N. Morel, F. Horreard, M. P. Moret
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. 28:C1C54-C1C58
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) and low energy electron induced x-ray emission spectroscopy (LEXES) are both well established technologies. SIMS tools are the ultimate reference for depth profiling and direct measurement of dopants with highes
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::556a1c2cf124ed533fd43a37c5ddc2db
https://doi.org/10.1116/1.3253352
https://doi.org/10.1116/1.3253352
Publikováno v:
Revue du rhumatisme et des maladies osteo-articulaires. 58(5)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::2904640d9a9a75e3863eb9a35ba73d32
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/1647546
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/1647546
Publikováno v:
Revue du rhumatisme et des maladies osteo-articulaires. 57(12)
The human retrovirus HTLV-1 (Human T-cell Lymphotrophic Virus) is responsible for malignant proliferations of mature T lymphocytes. It is also now implicated in neurological disorders dominated by spastic paraplegia. A study of 140 cases of lumbar an
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid________::8385598e74b1284e74564b87eae2e350
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/2150450
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/2150450
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films. 4:1684-1685
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2dedff4269a3a8a02790a9cddca732e8
https://doi.org/10.1116/1.573994
https://doi.org/10.1116/1.573994
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.