Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"F. Burkeen"'
Autor:
William M. Vetter, Cem Basceri, Jian Wei Wan, E.P. Carlson, Austin Blew, Arnd Dietrich Weber, Michael Dudley, F. Burkeen, M.S. Goorsky, V. Velidandla, Ejiro Emorhokpor, James D. Oliver, F. Orazio, R. S. Sandhu, Jason Ronald Jenny, A. Somanchi
Publikováno v:
Materials Science Forum. :443-446
Micropipe density (MPD) is a crucial parameter for silicon carbide (SiC) substrates that determines the quality, stability and yield of the semiconductor devices built on these substrates. The importance of MPD is underscored by the fact that all exi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e6a8532125372123f8224a3e74fadbfe
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.527-529.443
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.527-529.443
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
In semiconductor manufacturing, the control of defects at the edge of the wafer is a key factor to keep the number of yielding die on a wafer as high as possible. Using dry lithography, this control is typically done by an edge bead removal (EBR) pro
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5ae3cb2fceb669e42a0e5bfed5ffa525
https://doi.org/10.1117/12.713347
https://doi.org/10.1117/12.713347
Autor:
Ayla O. White, Eun Joo Chung, Kathryn E. Hudak, Su I. Chung, Jeffery F. Burkeen, Bradley T. Scroggins, Deborah Citrin
Publikováno v:
Cancer Research. 75:1799-1799
Introduction: Radiation therapy (RT) is used in the treatment of many cancers to reduce or eliminate tumor burden. In many cases RT is not curative and recurrence often occurs. Therefore agents that enhance the effectiveness of RT are necessary to im
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::eca9c56a746fbb99c44d7a64727db14f
https://doi.org/10.1158/1538-7445.am2015-1799
https://doi.org/10.1158/1538-7445.am2015-1799
Autor:
Ejiro Emorhokpor, E.P. Carlson, Jian Wei Wan, Arnd Dietrich Weber, C. Basceri, Jason R. Jenny, R. Sandhu, James D. Oliver, F. Burkeen, A. Somanchi, V. Velidandla, F. Orazio, A. Blew, M.S. Goorsky, Michael Dudley, William M. Vetter
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c49c58622fa80bcbc04df9524e8c25a3
https://doi.org/10.4028/0-87849-425-1.443
https://doi.org/10.4028/0-87849-425-1.443
Periodical
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.