Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"F. Barsun"'
Autor:
M.C. Casey, F. Barsun, S.A. Nation, Lloyd W. Massengill, A. Balasubramanian, O.A. Amusan, Matthew J. Gadlage, Arthur F. Witulski, Joseph S. Melinger, T. D. Loveless, Bharat L. Bhuva, Dale McMorrow, P.R. Fleming
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. 55:3309-3313
An on-chip charge-collection measurement circuit has been designed and fabricated in a 130 nm bulk CMOS process. Laser testing is used to verify the effectiveness of the on-chip charge-collection circuit technique for characterizing single event char
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3d21f59d8e5f411c72689930c54a0337
https://doi.org/10.1109/tns.2008.2007123
https://doi.org/10.1109/tns.2008.2007123
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.