Stacking Fault Segregation Imaging With Analytical Field Ion Microscopy.

Autor: F Morgado F; Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Max-Planck-Str. 1, Düsseldorf 40237, Germany., Stephenson LT; Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Max-Planck-Str. 1, Düsseldorf 40237, Germany., Bhatt S; Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Max-Planck-Str. 1, Düsseldorf 40237, Germany., Freysoldt C; Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Max-Planck-Str. 1, Düsseldorf 40237, Germany., Neumeier S; Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, Materials Science and Engineering, Institute 1, Martensstrasse 5, Erlangen 91058, Germany., Katnagallu S; Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Max-Planck-Str. 1, Düsseldorf 40237, Germany., Subramanyam APA; Interdisciplinary Centre for Advanced Materials Simulation, Ruhr-Universität Bochum, Universitätstr. 150, Bochum 44801, Germany., Pietka I; Interdisciplinary Centre for Advanced Materials Simulation, Ruhr-Universität Bochum, Universitätstr. 150, Bochum 44801, Germany., Hammerschmidt T; Interdisciplinary Centre for Advanced Materials Simulation, Ruhr-Universität Bochum, Universitätstr. 150, Bochum 44801, Germany., Vurpillot F; Normandie Université, UNIROUEN, INSA Rouen, CNRS, Groupe de Physique des Matériaux, Rouen 76000, France., Gault B; Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Max-Planck-Str. 1, Düsseldorf 40237, Germany.; Department of Materials, Royal School of Mines, Imperial College London, Prince Consort Rd, South Kensington, London SW7 2AZ, UK.

Publikováno v: Microscopy and microanalysis : the official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada [Microsc Microanal] 2024 Nov 13. Date of Electronic Publication: 2024 Nov 13.