Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"F, LAURON"'
Publikováno v:
2016 17th International Conference on Thermal, Mechanical and Multi-Physics Simulation and Experiments in Microelectronics and Microsystems (EuroSimE).
For the last decade, paraelectric BaxSr1−xTiO3 (BST) thin films have been especially studied to fabricate MIM capacitor for capacitance tuning applications. This paper describes the mechanisms of cracks apparition under BST stacked MIMIM capacitors
Autor:
J C, ERICKSON, F, LAURON
Publikováno v:
Guthrie Clinic bulletin. 30
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.