Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"F, Hejl"'
Autor:
Thorsten Knopp, James F. Buller, Hans vanMeer, Kalyana Kumar, Yuri Apanovich, John Faricelli, James C. Pattison, Bill Gardiol, Greg Constant, Joe Meier, Sean Hannon, Sushant Suryagandh, Kevin Carrejo, Darin Chan, Uwe Hahn, Akif Sultan, A.B. Icel, Rasit O. Topaloglu, Steve F. Hejl, David Wu, Kaveri Mathur, Victor F. Andrade, Larry A. Bair
Publikováno v:
ISQED
Stressors have been used since 90 nm technology to improve device performance to overcome the limitations of scaling. The stressors, including, - CPEN, TPEN, SMT, and e-SiGe to improve NMOS and PMOS drive current exhibit proximity dependence. In addi
Publikováno v:
Rozhledy v chirurgii : mesicnik Ceskoslovenske chirurgicke spolecnosti. 60(9)
Publikováno v:
Rozhledy v chirurgii : mesicnik Ceskoslovenske chirurgicke spolecnosti. 62(5)
Autor:
V, Korístek, J, Cerný, Z, Gregor, J, Hökl, F, Hejl, P, Roubal, J, Leypold, Z, Silhart, S, Perestý, P, Nĕmec
Publikováno v:
Casopis lekaru ceskych. 123(4)
Publikováno v:
Rozhledy v chirurgii : mesicnik Ceskoslovenske chirurgicke spolecnosti. 60(5)
Publikováno v:
Ceskoslovenska dermatologie. 51(1)
Publikováno v:
Rozhledy v chirurgii : mesicnik Ceskoslovenske chirurgicke spolecnosti. 63(7)
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.