Zobrazeno 1 - 10
of 152
pro vyhledávání: '"Experimental errors"'
Autor:
Yoyo Hinuma, Hiroyuki Ozaki
Publikováno v:
Science and Technology of Advanced Materials: Methods, Vol 4, Iss 1 (2024)
We present an advanced algorithm that systematically identifies Bravais lattices from diffraction data, such as powder X-ray, as these data are crucial for new material development. The algorithm efficiently generates an ‘augmented lattice’ with
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/962d6a6293d94eb29bb73e637dcaa8cb
Publikováno v:
Energies, Vol 17, Iss 14, p 3559 (2024)
In recent years, with the increase in environmental awareness, people have become more and more concerned about the effectiveness with which coal burns. Laser-induced breakdown spectroscopy (LIBS) has become an important way of coal elemental analysi
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/6784099675fc4e31b9a1a80570d3b33f
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Measuring Rheological Properties of Cement Pastes: Most common Techniques, Procedures and Challenges
Publikováno v:
RILEM Technical Letters, Vol 2, Pp 129-135 (2017)
The science of rheology is increasingly used to describe the properties of fresh cement paste. Compared to standard workability tests, rheological properties allow for more fundamental investigation, more precise phenomenological description of flow
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4389825d050145a7ad1fcb221bcd5704
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Operations Research. Jan/Feb62, Vol. 10 Issue 1, p147-149. 3p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Materials; Volume 15; Issue 13; Pages: 4616
Micro Raman spectroscopy is an effective method to quantitatively analyse the internal stress of semiconductor materials and structures. However, the decoupling analysis of the stress components for {100} monocrystalline silicon (c-Si) remains diffic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f00c8f1fddd36767ae4e20abbc1bc811
https://doi.org/10.3390/ma15134616
https://doi.org/10.3390/ma15134616