Zobrazeno 1 - 10
of 101
pro vyhledávání: '"Espina J"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Espina J. Ayala, Alonso D. Costales, Pérez Fernández, M. P. García Coque, J. P. Sancho Martínez
Publikováno v:
JOM. 58:58-62
Electrofilter fines, which are by-products of the Bayer process for the production of alumina from bauxite, were characterized to evaluate the alumina that was potentially extractable with sulfuric acid. Acid leaching is carried out at different conc
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
Scopus-Elsevier
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname
Scopus-Elsevier
The work presented in this paper addresses the unwanted windup phenomenon reviewing and comparing different PI anti-windup strategies employed in speed control of electric drives. The tuning process of PI controllers is usually carried out considerin
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6fc2384d7e16fc9ddd874ad2a1881f53
http://hdl.handle.net/2117/11026
http://hdl.handle.net/2117/11026
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IECON 2016 - 42nd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society; 2016, p1767-1772, 6p