Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Eric X Yang"'
Publikováno v:
Proceedings of 1995 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition - APEC'95.
This paper characterizes switching losses of 600 V generation-1 and generation-2 P-MCT (MOS controlled thyristors) devices. These devices, packaged in TO-218 and TO-247, are rated at 75 A for continuous current at 90/spl deg/C case temperature. By op
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.