Zobrazeno 1 - 10
of 125
pro vyhledávání: '"Erben, E."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Weinreich, W., Reiche, R., Lemberger, M., Jegert, G., Müller, J., Wilde, L., Teichert, S., Heitmann, J., Erben, E., Oberbeck, L., Schröder, U., Bauer, A.J., Ryssel, H.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1826-1829
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
The energy distribution of the interface trap density for high-k metal gate field effect transistors, fabricated in the standard 28 nm node technology and subjected to various fabrication processes was obtained using the capacitance transient spectro
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::ceda639482a1cb5395fc6afc6f641a04
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/251887
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/251887
We have carried out a combined experimental and theoretical study on the influence of lanthanum, nitrogen, and fluorine treatments on the electric properties of high-k metal gate (HKMG) devices. In particular, we have developed a theoretical gate sta
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::d07f35706939fdcc8d63e61641eee625
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/249342
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/249342
Autor:
Dayu Zhou, Schroeder, U., Jin Xu, Heitmann, J., Jegert, G., Weinreich, W., Kerber, M., Knebel, S., Erben, E., Mikolajick, T.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Dec2010, Vol. 108 Issue 12, p124104, 5p, 1 Chart, 5 Graphs
Autor:
Weinreich, W., Ignatova, V. A., Wilde, L., Teichert, S., Lemberger, M., Bauer, A. J., Reiche, R., Erben, E., Heitmann, J., Oberbeck, L., Schröder, U.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Aug2009, Vol. 106 Issue 3, p034107-034114, 7p, 1 Diagram, 1 Chart, 8 Graphs