Výsledky vyhledávání - "Epov, M. V."

Akademický článek

Multiangular and Spectral Ellipsometry for Semiconductor Nanostructures Classification.

Autor: Goloborodko, A. A., Epov, M. V., Robur, L. Y., Rodionova, T. V.

Publikováno v: Journal of Nano- & Electronic Physics; 2014, Vol. 6 Issue 2, p02002-1-02002-5, 5p

Zobrazit plný text záznamu

Multiangular and spectral ellipsometry for semiconductor nanostructures classification

Autor: Andrey Goloborodko, Epov, M. V., Robur, L. Y., Rodionova, T. V.

Publikováno v: Scopus-Elsevier

Досліджені можливості багатопараметричного визначення напівпровідникових наноструктур на основі спектральних залежностей поляризов

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::bc423e9878ff2df111de1ca9ce0268e9
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84903217534&partnerID=MN8TOARS

Zobrazit plný text záznamu