Zobrazeno 1 - 10
of 585
pro vyhledávání: '"Eng, D"'
Autor:
Cuff, Robert, Wohlauer, Max, Shalhub, Sherene, Mills, Joseph L., Eldrup-Jorgensen, Jens, Chuen, Jason, Bath, Jonathan, Tinelli, Giovanni, Afifi, Rana O., Coscas, Raphaël, Hiatt, William, Grover, Frederick, Colborn, Kathryn, MacDermott, Tracey, Al-Musawi, Mohammed, McNulty, Monica, Burke, Jaimielyn, Kabeil, Mahmood, Moore, Ethan, Gillette, Riley, Barqawi, Zuhair, Myers, Quintin W.O., Boggs, Shelbi, Ivar, Allie, Quinn, Jillian, Jacobs, Donald, Schulick, Richard D., Bonaca, Marc, Nehler, Mark, Heard, Susan, Jaeger, Nicole, McCartney, Vera, Sica, Simona, Pasciuto, Tina, D’Oria, Mario, Kabeil, Mahmood S., Droz, Nathan, Mouawad, Nicolas J., Khetarpaul, Vipul, Wohlauer, Max V.
Publikováno v:
In Annals of Vascular Surgery December 2024 109:326-337
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Nucleic Acids Research; 11/27/2024, Vol. 52 Issue 21, p13340-13350, 11p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Murchie, S., Eng, D., Chabot, N., Guo, Y., Arvidson, R., Yen, A., Trebi-Ollennu, A., Seelos, F., Adams, E., Fountain, G.
Publikováno v:
In Acta Astronautica January 2014 93:475-482
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Eng, D., Kawasumi, M.
Publikováno v:
In Journal of Investigative Dermatology May 2023 143(5) Supplement:S146-S146
Publikováno v:
In Journal of Endodontics 2006 32(4):372-375
Autor:
Chou, Y.C., Leung, D., Grundbacher, R., Lai, R., Kan, Q., Liu, P.H., Eng, D., Block, T., Oki, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(1):24-40