Zobrazeno 1 - 10
of 232
pro vyhledávání: '"Eneman, Geert"'
Autor:
Favia Paola, Veloso Anabela, Eneman Geert, Mehta Ankit Nalin, Zhou Xiuju, Richard Olivier, Geypen Jef, Grieten Eva
Publikováno v:
BIO Web of Conferences, Vol 129, p 24025 (2024)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2b9b415238994546ada2250dd6f5b863
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Eneman, Geert, Collaert, Nadine, Veloso, Anabela, De Keersgieter, An, De Meyer, Kristin, Hoffmann, Thomas Y., Horiguchi, Naoto, Thean, Aaron
Publikováno v:
In Solid State Electronics August 2012 74:19-24
Autor:
Hellings, Geert, Hikavyy, Andriy, Mitard, Jerome, Witters, Liesbeth, Benbakhti, Brahim, Alian, AliReza, Waldron, Niamh, Bender, Hugo, Eneman, Geert, Krom, Raymond, Schulze, Andreas, Vandervorst, Wilfried, Loo, Roger, Heyns, Marc, Meuris, Marc, Hoffmann, Thomas, De Meyer, Kristin
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 February 2012 520(8):3326-3331
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Benbakhti, Brahim, Kalna, Karol, Chan, KahHou, Towie, Ewan, Hellings, Geert, Eneman, Geert, De Meyer, Kristin, Meuris, Marc, Asenov, Asen
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(4):358-361
Autor:
Hellings, Geert, Rosseel, Erik, Clarysse, Trudo, Petersen, Dirch Hjorth, Hansen, Ole, Nielsen, Peter Folmer, Simoen, Eddy, Eneman, Geert, De Jaeger, Brice, Hoffmann, Thomas, De Meyer, Kristin, Vandervorst, Wilfried
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(4):347-350
Autor:
Benbakhti, Brahim, Chan, KahHou, Towie, Ewan, Kalna, Karol, Riddet, Craig, Wang, Xingsheng, Eneman, Geert, Hellings, Geert, De Meyer, Kristin, Meuris, Marc, Asenov, Asen
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2011 63(1):14-18
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.