Zobrazeno 1 - 10
of 373
pro vyhledávání: '"Endrizzi, M."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In NDT and E International October 2023 139
Publikováno v:
In Materials Today Communications June 2022 31
Autor:
Kallon, G. K., Vittoria, F. A., Endrizzi, M., Diemoz, P. C., Hagen, C. K., Zamir, A., Basta, D., Olivo, A.
Edge illumination (EI) is a non-interferometric X-ray phase contrast imaging (XPCI) method that has been successfully implemented with conventional polychromatic sources, thanks to its relaxed coherence requirements. Like other XPCI methods, EI enabl
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1709.09005
Publikováno v:
Phys. Rev. Lett. 118, 243902 (2017)
We present a multi-aperture analyser set-up for performing X-ray phase contrast imaging in planar and three-dimensional modalities. A multi-slice representation of the sample is used to establish a quantitative relation between projection images and
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1701.06830
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.