Výsledky vyhledávání - "End point detection"

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Last Line of Defense: Reliability Through Inducing Cyber Threat Hunting With Deception in SCADA Networks

Autor: Abdul Basit Ajmal, Masoom Alam, Awais Abdul Khaliq, Shawal Khan, Zakria Qadir, M. A. Parvez Mahmud

Publikováno v: IEEE Access, Vol 9, Pp 126789-126800 (2021)

There exists a gap between existing security mechanisms and their ability to detect advancing threats. Antivirus and EDR (End Point Detection and Response) aim to detect and prevent threats; such security mechanisms are reactive. This approach did no

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1f0341b6e7ab5493153dbe7372a2dc69
https://doi.org/10.1109/access.2021.3111420

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Dielectric Film Thickness Measurement Via a Convolutional Neural Network for Integrated Circuit Delayering End Point Detection

Autor: Isabel Boona, Jonathan Scholl, Yash Patel, Kurtis Wickey, Jeremiah Schley, Nick Darby, Josh Baur

Publikováno v: International Symposium for Testing and Failure Analysis.

Integrated circuit (IC) delayering workflows are highly reliant on operator experience to determine processing end points. The current method of end point detection during IC delayering uses qualitative correlations between the thickness and color of

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5e65a2a38cb1d43f7232806bb983137f
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2021p0418

Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání