Výsledky vyhledávání - "Emission de lumière dynamique"

Dissertation/ Thesis

Contribution à l'analyse de signaux acquis par émission de photons dynamique pour l'étude de circuits à très haute intégration

Autor: Chef, Samuel

Les progrès dans la miniaturisation des transistors permettent de réaliser des circuits toujours plus performants. En contrepartie, dans le cas où il y a défaillance, l'analyse de ces circuits est plus délicate. L'étape de localisation du défa

Externí odkaz: http://www.theses.fr/2014DIJOS032/document

Zobrazit plný text záznamu

Contribution à l'analyse de signaux acquis par émission de photons dynamique pour l'étude de circuits à très haute intégration

Autor: Chef , Samuel

Publikováno v: Electronique. Université de Bourgogne, 2014. Français. 〈NNT : 2014DIJOS032〉
Electronique. Université de Bourgogne, 2014. Français. ⟨NNT : 2014DIJOS032⟩

Scaling progresses has the benefit of making chips always more powerful. On the other hand, when there is a failure, the analysis of such advanced devices has became more sensitive. The defect localization step of this process is the critical one. In

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::fcf05f5581f6b561772885c57741d903
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01128218

Zobrazit plný text záznamu

Contribution to the analysis of signals obtained by dynamic photon emission for the purpose of studying very large scale integration circuits

Autor: Chef, Samuel

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3711::fcf05f5581f6b561772885c57741d903
https://theses.hal.science/tel-01128218

Zobrazit plný text záznamu

Dissertation/ Thesis

Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l'analyse de défaillance des composants VLSI

Autor: Bascoul, Guillaume

Les technologies VLSI (« Very large Scale Integration ») font partie de notre quotidien et nos besoins en miniaturisation sont croissants. La densification des transistors occasionne non seulement des difficultés à localiser les défauts dits «

Externí odkaz: http://www.theses.fr/2013BOR14876/document

Zobrazit plný text záznamu

Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l'analyse de défaillance des composants VLSI

Autor: Guillaume BASCOUL

Publikováno v: Electronique. Université Sciences et Technologies-Bordeaux I, 2013. Français
Guillaume BASCOUL

VLSI ("Very Large Scale Integration") technologies are part of our daily life and miniaturization needs are increasing. The densification of transistors not only means having trouble locating the so-called "hard defects" occurring during the developm

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::445d0ca220021f404e84aba56831f299
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00998831/file/BASCOUL_GUILLAUME_2013.pdf

Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání