Zobrazeno 1 - 10
of 101
pro vyhledávání: '"Em, V.T."'
Autor:
Em, V.T., Karpov, I.D., Somenkov, V.A., Glazkov, V.P., Balagurov, A.M., Sumin, V.V., Mikula, P., Ŝaroun, J.
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 15 December 2018 551:413-416
Autor:
Choi, Y., Paik, D.J., Bogdanov, S.G., Valiev, E.Z., Borisova, P.A., Murashev, M.M., Em, V.T., Pirogov, A.N.
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 15 December 2018 551:218-221
Publikováno v:
In Acta Materialia December 2012 60(20):6972-6981
Autor:
null Em V.T., null Shavkin S.V., null Krylov V.E., null Kruglov V.S., null Karpov I.D., null Irodova A.V.
Publikováno v:
Technical Physics. 67:2391
Using neutron diffraction we determined internal residual stress in the stainless steel AISI 310S carrier tape with a thickness of 100 μm and a width of 4 mm after mechanical polishing and the ABAD deposition of the textured YSZ buffer layer. It is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d5669ea64c711540e75eedfbf7ee9240
https://doi.org/10.21883/tp.2022.15.55265.169-21
https://doi.org/10.21883/tp.2022.15.55265.169-21
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tashmetov, M.Yu., Em, V.T., Lee, C.H., Choi, Y.N., Lee, J.S., Shekhtman, V.Sh., Dolukhanyan, S.K.
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 2005 369(1):254-260
Autor:
Moon, Myung-Kook *, Nam, Uk-Won, Lee, Chang-Hee, Em, V.T., Choi, Young-Hyun, Cheon, Jong-Kyu, Kong, Kyung-Nam
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 2005 538(1):592-596
Publikováno v:
In Physica B: Physics of Condensed Matter 2004 350(1) Supplement:E175-E178