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pro vyhledávání: '"Elektronen-Energieverlustspektroskopie"'
Autor:
Janis Köster, Alexander Storm, Tatiana E. Gorelik, Michael J. Mohn, Fabian Port, Manuel R. Gonçalves, Ute Kaiser
In mono- and few-layer 2D materials, the exact number of layers is a critical parameter, determining the materials’ properties and thus their performance in future nano-devices. Here, we evaluate in a systematic manner the signature of exfoliated f
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3579fed11afb43f333513f2ed723482e
Autor:
Mohn, Michael Johannes
In this work, we perform aberration-corrected energy-filtered TEM (EFTEM) and low-loss electron energy-loss spectroscopy (EELS) with two-dimensional (2D) materials. In particular, the carbon K-edge EFTEM signal is analyzed for a monolayer of graphene
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::987843aba84ea1ca5734a37cb0326f45
Autor:
Waechtler, Thomas, Oswald, Steffen, Roth, Nina, Jakob, Alexander, Lang, Heinrich, Ecke, Ramona, Schulz, Stefan E., Gessner, Thomas, Moskvinova, Anastasia, Schulze, Steffen, Hietschold, Michael
Publikováno v:
Journal of The Electrochemical Society, Vol. 156, No. 6, pp. H453-H459 (2009); Digital Object Identifier (DOI): 10.1149/1.3110842
The thermal atomic layer deposition (ALD) of copper oxide films from the non-fluorinated yet liquid precursor bis(tri-n-butylphosphane)copper(I)acetylacetonate, [(nBu3P)2Cu(acac)], and wet O2 on Ta, TaN, Ru and SiO2 substrates at temperatures of < 16
Autor:
Singh, Pradeep Kumar
Die fortwährende Verkleinerung der Strukturbreiten in der Mikroelektronik erfordert es, herkömmliche SiO2 Dielektrika durch Materialien mit kleinerer Dielektrizitätskonstante zu ersetzen. Dafür sind verschiedene „low-k Materialien“ entwickelt
Autor:
Schletter, Herbert
Der Einsatz nanostrukturierter Magnetmaterialien als Speicherschichten in Festplatten stellt ein vielversprechendes Konzept zur weiteren Erhöhung der erreichbaren Speicherdichten im Vergleich zu den heute eingesetzten granularen Medien dar. Für die
Autor:
Singh, Pradeep Kumar
Die fortwährende Verkleinerung der Strukturbreiten in der Mikroelektronik erfordert es, herkömmliche SiO2 Dielektrika durch Materialien mit kleinerer Dielektrizitätskonstante zu ersetzen. Dafür sind verschiedene „low-k Materialien“ entwickelt
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______218::29aa628b69b154a56431f42652ad9ed5
https://monarch.qucosa.de/id/qucosa:20114
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Autor:
L��ffler, Stefan
In der vorliegenden Arbeit werden neue Methoden vorgestellt, mit deren Hilfe Elektronenwellenfunktionen in Festk��rpern mittels Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Elektronenenergieverlustspektrometrie (EELS) direkt im Realraum vermessen
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::935bd96044794e8d7bba05c49aba8532
Autor:
Atzkern, Stefan
This work presents a joint theoretical and experimental investigation of the electronic structure of quasi one-dimensional cuprates and vanadates. Electron energy-loss spectroscopy in transmission was employed to measure the momentum-dependent loss f
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https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A24117
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A24117/attachment/ATT-0/
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Autor:
Waidmann, Stephan
Im Hinblick auf das immense Potential von Diamant als Material für die Mikroelektronik wurden im Rahmen dieser Arbeit undotierte und dotierte Diamantfilme mittels chemischer Gasphasenabscheidung auf Silizium präpariert und anschließend auf ihre el
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https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A24783
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A24783/attachment/ATT-0/
https://tud.qucosa.de/api/qucosa%3A24783/attachment/ATT-0/
Autor:
Atzkern, S.
This work presents a joint theoretical and experimental investigation of the electronic structure of quasi one-dimensional cuprates and vanadates. Electron energy-loss spectroscopy in transmission was employed to measure the momentum-dependent loss f
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3324d5e3c3f220f8d18538751b9cdbf3
https://tud.qucosa.de/id/qucosa:24117
https://tud.qucosa.de/id/qucosa:24117