Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Eklow, Bill"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gu, Xinli, Rearick, Jeff, Eklow, Bill, Qian, Jun, Jutman, Artur, Chakrabarty, Krishnendu, Larsson, Erik
As chips are getting increasingly complex, there is no surprise to find more and more built-in DFX. This built-in DFT is obviously beneficial for chip/silicon DFX engineers; however, board/system level DFX engineers often have limited access to the b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::0643bd7bf420bf06da6870c5617d7015
https://lup.lub.lu.se/record/2732595
https://lup.lub.lu.se/record/2732595
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2014 International Test Conference; 2014, p1-10, 10p
Autor:
Sadi, Mehdi, Conroy, Zoe, Eklow, Bill, Kamm, Matthias, Bidokhti, Nematollah, Tehranipoor, Mark Mohammad
Publikováno v:
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium; 2014, p269-274, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference; Jun2013, p1-6, 6p
Publikováno v:
2013 50th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC); 2013, p1-6, 6p
Publikováno v:
2013 22nd Asian Test Symposium; 2013, p147-152, 6p
Publikováno v:
Proceedings of the Conference: Design, Automation & Test in Europe; 3/12/2012, p793-798, 6p