Zobrazeno 1 - 10
of 38
pro vyhledávání: '"Ejeckam, Felix"'
Autor:
Babić, Dubravko I., Diduck, Quentin, Faili, Firooz, Wasserbauer, John, Lowe, Frank, Francis, Daniel, Ejeckam, Felix
Publikováno v:
In Diamond & Related Materials 2011 20(5):675-681
Autor:
Francis, Daniel, Ji, Xiaoyang, Vanjari, Sai Charan, Tadjer, Marko, Feygelson, Tatyana, Lundh, James Spencer, Masten, Hannah, Spencer, Joseph, Jacobs, Alan G., Anderson, Travis J., Hobart, Karl D., Pate, Bradford, Kuball, Martin, Ejeckam, Felix
Publikováno v:
ECS Meeting Abstracts; 2024, Vol. MA2024-01 Issue 1, p1567-1567, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ejeckam, Felix, Francis, Daniel, Faili, Firooz, Twitchen, Daniel, Bolliger, Bruce, Babic, Dubravko, Felbinger, Jonathan
Publikováno v:
2014 Lester Eastman Conference on High Performance Devices (LEC); 2014, p1-5, 5p
Autor:
Ejeckam, Felix, Francis, Daniel, Faili, Firooz, Dodson, Joe, Twitchen, Daniel J., Bolliger, Bruce, Babic, Dubravko
Publikováno v:
Fourteenth Intersociety Conference on Thermal & Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm); 2014, p1206-1209, 4p
Autor:
Altman, David, Tyhach, Matthew, McClymonds, James, Kim, Samuel, Graham, Samuel, Cho, Jungwan, Goodson, Kenneth, Francis, Daniel, Faili, Firooz, Ejeckam, Felix, Bernstein, Steven
Publikováno v:
Fourteenth Intersociety Conference on Thermal & Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems (ITherm); 2014, p1199-1205, 7p
Autor:
Ejeckam, Felix, Babic, Dubravko, Faili, Firooz, Francis, Daniel, Lowe, Frank, Diduck, Quentin, Khandavalli, Chandra, Twitchen, Daniel, Bolliger, Bruce
Publikováno v:
2014 Semiconductor Thermal Measurement & Management Symposium (SEMI-THERM); 2014, p242-246, 5p