Zobrazeno 1 - 10
of 123
pro vyhledávání: '"Eisenstadt, William R"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ashton, Mark D, Appen, Isabel C, Firlak, Melike, Stanhope, Naomi E, Schmidt, Christine E, Eisenstadt, William R, Hur, Byul, Hardy, John G
Publikováno v:
Polymer International; Apr2021, Vol. 70 Issue 4, p467-474, 8p
Publikováno v:
IMSTW: International Mixed-Signals Test Workshop
IMSTW: International Mixed-Signals Test Workshop, Jul 2016, Sant Feliu de Guíxols, Spain. IEEE, 2016, ⟨10.1109/IMS3TW.2016.7524214⟩
IMSTW: International Mixed-Signals Test Workshop, Jul 2016, Sant Feliu de Guíxols, Spain. IEEE, 2016, ⟨10.1109/IMS3TW.2016.7524214⟩
International audience; Twenty-one years ago, the IEEE Mixed-Signal Test Workshop (IMSTW) was inaugurated as one of the main forums that bring together the test community to discuss ideas and views specifically for analog, mixed-signal, and RF circui
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::b06f1a8a43e5384f83a789aa7394dc87
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01433610
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01433610
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hur, Byul, Eisenstadt, William R.
Publikováno v:
2015 85th Microwave Measurement Conference (ARFTG); 2015, p1-5, 5p
Autor:
Hur, Byul, Eisenstadt, William R.
Publikováno v:
2015 IEEE 16th Annual Wireless & Microwave Technology Conference (WAMICON); 2015, p1-5, 5p
Autor:
Baek, Hyunho, Eisenstadt, William R.
Publikováno v:
2015 IEEE International Symposium on Circuits & Systems (ISCAS); 2015, p1390-1393, 4p
Autor:
Hur, Byul, Eisenstadt, William R.
Publikováno v:
SoutheastCon 2015; 2015, p1-6, 6p