Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Efthymiou, Loizos"'
Autor:
Efthymiou, Loizos
Gallium Nitride (GaN) is considered a very promising material for use in the field of power devices as its application in power systems would result in a significant increase in the power density, reduced power losses, and the potential to operate at
Externí odkaz:
https://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.744433
Autor:
Longobardi, Giorgia, Efthymiou, Loizos, Findlay, John, Bricconi, Andrea, Comiskey, Peter, Arnold, Martin, Miller, David, Udrea, Florin
Publikováno v:
In Power Electronic Devices and Components March 2023 4
Publikováno v:
Journal of Physics D: Applied Physics; 1/13/2025, Vol. 58 Issue 2, p1-10, 10p
Autor:
Efthymiou, Loizos1 le257@cam.ac.uk, Camuso, Gianluca1 gc409@cam.ac.uk, Longobardi, Giorgia1 gl315@cam.ac.uk, Chien, Terry2 Terry.Chien@vishay.com, Chen, Max2 max.chen@vishay.com, Udrea, Florin1 fu10000@cam.ac.uk
Publikováno v:
Energies (19961073). Mar2017, Vol. 10 Issue 3, p407. 11p. 2 Diagrams, 8 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Efthymiou, Loizos
Gallium Nitride (GaN) is considered a very promising material for use in the field of power devices as its application in power systems would result in a significant increase in the power density, reduced power losses, and the potential to operate at
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::68c37fce882b137f0dcaf76f4ca12eb9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Efthymiou, Loizos, Longobardi, Giorgia, Camuso, Gianluca, Hsieh, Alice Pei-Shan, Udrea, Florin
Publikováno v:
2015 International Semiconductor Conference (CAS); 2015, p211-214, 4p