Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"Ee, Y.C."'
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 November 2006 253(2):530-534
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2006 128(1):89-92
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2006 504(1):218-222
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2005 198(1):291-295
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 2005 198(1):287-290
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2004 462:197-201
Publikováno v:
2008 15th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 2008, p1-6, 6p
Autor:
Tan, J.B., Zhang, B.C., Tang, T.J., Perera, C., Lims, Y.K., Siew, Y.K., Ee, Y.C., Lu, W., Liu, H., Seet, C.S., Zhang, B., Lim, S.K., Chua, S.T., Ismail, Z., Seah, B.M., Ee, P.Y., Vigar, D., Hsia, L.C.
Publikováno v:
2006 International Interconnect Technology Conference; 2006, p6-8, 3p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.