Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Ee, Y. C."'
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Mar2008, Vol. 103 Issue 5, p053512, 6p, 1 Diagram, 1 Chart, 4 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ee, Y. C., Ng, W. L., Tan, J. B., Zhang, F., Shao, W., Chua, J. K., Li, H. X., Lin, B. F., Ng, C. W., Ramanathan, E.
Publikováno v:
2011 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 1/ 1/2011, p63-66, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ee, Y. C., Chen, Z., Chan, L., See, K. H., Law, S. B., Xu, S., Tsakadze, Z. L., Rutkevych, P. P., Zeng, K. Y., Shen, L.
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2005, Vol. 23 Issue 6, p2444-2448, 5p
Publikováno v:
Journal of Vacuum Science & Technology: Part A-Vacuums, Surfaces & Films; 2004, Vol. 22 Issue 4, p1852-1856, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied Physics Letters; 12/18/2006, Vol. 89 Issue 25, p251904, 3p, 1 Black and White Photograph, 1 Chart, 3 Graphs