Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"Echer, C.J"'
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering A 1999 270(2):278-282
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/1/1998 Part 2 of 2, Vol. 83 Issue 11, p6810, 3p, 15 Diagrams, 2 Graphs
Autor:
Brewer, M.A., Echer, C.J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 4/16/1997, Vol. 81 Issue 8, p4128, 3p, 3 Black and White Photographs, 1 Diagram, 1 Chart, 6 Graphs
Autor:
Krishnan, K.M., Echer, C.J.
Publikováno v:
Krishnan, K.M.; & Echer, C.J.(1991). Measurements of Ionization Cross-Sections for Electron Energy-Loss Microanalysis Under Well Defined Scattering Conditions. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/9hh2220b
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::68377e11dc2681dadd840cb9ead3ac84
http://www.escholarship.org/uc/item/9hh2220b
http://www.escholarship.org/uc/item/9hh2220b
Autor:
Kassner, M.E., Echer, C.J.
The article of record as published may be found at http://dx.doi.org/10.1016/0026-0800(86)90013-3 The mechanical damage that is introduced into annealed aluminum by the various steps used in the preparation of thin foils for transmission electron mic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2778::c1232dd2db058725072e06916b04db5f
https://hdl.handle.net/10945/61016
https://hdl.handle.net/10945/61016
Publikováno v:
Koestler, C.; Ramesh, R.; & Echer, C.J.(1988). MICROSTRUCTURE OF MELT SPUN ND-FE-CO-B MAGNETS. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/7cn7w1mk
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::14ba3f10d0d41fdfd941cb8e1e8362b8
http://www.escholarship.org/uc/item/7cn7w1mk
http://www.escholarship.org/uc/item/7cn7w1mk
Autor:
Krishnan, K.M., Echer, C.J.
Publikováno v:
Krishnan, K.M.; & Echer, C.J.(1987). DETERMINATION OF UTW K xsi FACTORS FOR LOW ATOMIC NUMBER MICROANALYSIS: A SYSTEMATIC APPROACH. Lawrence Berkeley National Laboratory: Lawrence Berkeley National Laboratory. Retrieved from: http://www.escholarship.org/uc/item/3mk2880c
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::e96682b71bd33b4e57432495516c8e9e
http://www.escholarship.org/uc/item/3mk2880c
http://www.escholarship.org/uc/item/3mk2880c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.