Zobrazeno 1 - 10 of 5 545 pro vyhledávání: '"ELECTRODIFFUSION"'
1
Akademický článek
Research Overview on the Electromigration Reliability of SnBi Solder Alloy.
Autor: Li, Wenjie1,2 (AUTHOR) wj.li4@siat.ac.cn, Guo, Liwei1 (AUTHOR), Li, Dan1 (AUTHOR), Liu, Zhi-Quan2,3 (AUTHOR) zqliu@siat.ac.cn
Publikováno v: Materials (1996-1944). Jun2024, Vol. 17 Issue 12, p2848. 30p.
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Electric-field-induced surface modification in TlGaSe2 layered semiconductor: Capacitive effect caused by electromigration of native defects.
Autor: Olcay, Emir Suad1 (AUTHOR), Sönmez, Ayşe1 (AUTHOR), Okumuş, Esra1,2 (AUTHOR), Çolakerol Arslan, Leyla1 (AUTHOR), Berber, Savaş1 (AUTHOR), Seyidov, MirHasan Yu.1 (AUTHOR) smirhasan@gtu.edu.tr
Publikováno v: Journal of Applied Physics. 5/28/2024, Vol. 135 Issue 20, p1-21. 21p.
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Effect of the global electroneutrality condition on electromigration Taylor–Aris dispersion in a microcapillary with finite Debye layer thickness.
Autor: Chatterjee, A.1 (AUTHOR), Nayak, A. K.1 (AUTHOR) ameeyakumar@gmail.com
Publikováno v: Journal of Chemical Physics. 5/21/2024, Vol. 160 Issue 19, p1-15. 15p.
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
ELECTRODIFUSION OF MANGANESE ATOMS IN SILICON.
Autor: Iliyev, Xalmurat M.1, Khudoynazarov, Zafar B.1, Isakov, Bobir O.1 bobir6422isakov@gmail.com, Madjitov, Mirahmat X.1, Ganiyev, Abduvokhid A.1
Publikováno v: East European Journal of Physics. 2024, Issue 2, p384-387. 4p.
Zobrazit plný text záznamu
5
Akademický článek
Accelerated Electromigration Approach to Evaluate Chloride-Induced Corrosion of Steel Rebar Embedded in Concrete.
Autor: Hoque, Kazi Naimul1 (AUTHOR), Presuel-Moreno, Francisco2 (AUTHOR), Nazim, Manzurul2 (AUTHOR)
Publikováno v: Advances in Materials Science & Engineering. 12/5/2023, p1-14. 14p.
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
A framework for combined simulations of electromigration induced stress evolution, void nucleation, and its dynamics: Application to nano-interconnect reliability.
Autor: Saleh, A. S.1,2 (AUTHOR), Croes, K.2 (AUTHOR), Ceric, H.3 (AUTHOR), De Wolf, I.1,2 (AUTHOR), Zahedmanesh, H.2 (AUTHOR) Houman.Zahedmanesh@imec.be
Publikováno v: Journal of Applied Physics. 10/7/2023, Vol. 134 Issue 13, p1-12. 12p.
Zobrazit plný text záznamu
7
Akademický článek
Effect of Partial Doping with La Atoms on Some Superconducting and Electrotransport Characteristics of Y1-x LaxBa2Cu3Oy Polycrystals.
Autor: Nikoghosyan, S. K.1,2, Sargsyan, A. G.1, Zargaryan, Y. G.1 yerjanik.zargaryan@isec.am, Aivazyan, A.1, Hakopyan, A.1
Publikováno v: Armenian Journal of Physics. 2023, Vol. 16 Issue 4, p114-118. 5p.
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Recrystallization and Grain Growth in Cu-Cu Joints under Electromigration at Low Temperatures.
Autor: Yang, Shih-Chi1 (AUTHOR) scdic1201@gmail.com, Tran, Dinh-Phuc1 (AUTHOR), Chen, Chih1 (AUTHOR) chihchen@nycu.edu.tw
Publikováno v: Materials (1996-1944). Sep2023, Vol. 16 Issue 17, p5822. 11p.
Zobrazit plný text záznamu
9
Akademický článek
An improved through-discharge electromigration method for determining the migration parameters of nuclides in bentonite.
Autor: Zang, Jianzheng1 (AUTHOR) zangjianzheng@126.com, Yao, Haibo1 (AUTHOR), Jiang, Guorun1 (AUTHOR), Chen, Jie1 (AUTHOR), Liu, Yan1 (AUTHOR), Wang, Yu1 (AUTHOR), Xu, Hui1 (AUTHOR), Wang, Weixian1 (AUTHOR)
Publikováno v: Journal of Radioanalytical & Nuclear Chemistry. Nov2024, Vol. 333 Issue 11, p5435-5442. 8p.
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
SCALABLE APPROXIMATION AND SOLVERS FOR IONIC ELECTRODIFFUSION IN CELLULAR GEOMETRIES.
Autor: BENEDUSI, PIETRO1 benedp@simula.no, ELLINGSRUD, ADA JOHANNE1 ada@simula.no, HERLYNG, HALVOR1 hherlyng@simula.no, ROGNES, MARIE E.1 meg@simula.no
Publikováno v: SIAM Journal on Scientific Computing. 2024, Vol. 46 Issue 5, pB725-B751. 27p.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje