Zobrazeno 1 - 10
of 576
pro vyhledávání: '"EBIC method"'
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2002 91:239-243
Autor:
C Frigeri
Publikováno v:
Microscopy of Semiconducting Materials, 1987
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0e9adf2bf886f9e3db1abd9e2a19597b
https://doi.org/10.1201/9781003069621-117
https://doi.org/10.1201/9781003069621-117
Autor:
Franc, J. a, *, Belas, E. a, Toth, A.L. b, Sitter, H. c, Hlı́dek, P. a, Moravec, P. a, Höschl, P. a
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 1999 197(3):593-598
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Davidová, Lenka
Master´s thesis is focused on diagnostics of semiconductor materials by EBIC method (measuring of currents induced beam), determination of the lifetime of minority carriers, or their diffusion length. The theoretical part is aimed at the principle o
Externí odkaz:
http://www.nusl.cz/ntk/nusl-319289
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.