Zobrazeno 1 - 10
of 318
pro vyhledávání: '"E. Tajahuerce"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
J. Lancis, Ll. Martinez-Leon, V. Duran, E. Tajahuerce, P. Clemente, V. Torres-Company, P. Andres
Publikováno v:
2011 10th Euro-American Workshop on Information Optics.
Autor:
R. Martinez-Cuenca, V. Duran, E. Tajahuerce, J. Lancis, V. Climent, J. Ares, J. Arines, P. Prado, S. Bara, Z. Jaroszewicz
Publikováno v:
2011 10th Euro-American Workshop on Information Optics.
Autor:
V. Durán, V. Climent, J. Lancis, E. Tajahuerce, S. Bará, J. Arines, J. Ares, P. Andrés, Z. Jaroszewicz
Publikováno v:
Information Optics and Photonics ISBN: 9781441973795
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::89e5432969ccc853dbbdf890a197b6a5
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7380-1_5
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7380-1_5
Publikováno v:
Information Optics and Photonics ISBN: 9781441973795
Digital holography allows us to record and process digitally the complex amplitude distribution associated to diffracted light beams and therefore has offered new possibilities for a variety of applications such as 3D microscopy, interferometry, or i
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::cccf83d6ea8c2bdb981ddb7b4db34553
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7380-1_11
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-7380-1_11