Zobrazeno 1 - 10
of 28
pro vyhledávání: '"E. Stumpe"'
Autor:
N.C. Voermans, M. Vriens-Munoz Bravo, G.W. Padberg, P. Laforêt, N. van Alfen, S. Attarian, U.A. Badrising, E. Bugiardini, P. Camano González, R.Y. Carlier, I. Desguerre, J. Diaz-Manera, J. Dumonceaux, B.G. van Engelen, T. Evangelista, S. Khosla, A. López de Munain, S.M. van der Maarel, A. Mejat, M. Monforte, F. Montagnese, K. Mul, P. Oflazer, B. Porter, S. Quijano-Roy, E. Ricci, S. Sacconi, V.A. Sansone, B. Schoser, J. Statland, E. Stumpe, G. Tasca, R. Tawil, C. Turner, J. Vissing
Publikováno v:
Neuromuscular Disorders, 31, 907-918
Neuromuscular Disorders, 31, 9, pp. 907-918
Neuromuscular Disorders, 31, 9, pp. 907-918
Item does not contain fulltext
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hans Oechsner, E. Stumpe
Publikováno v:
Applied Physics. 14:43-47
An experimental system for mass spectrometry of supttered neutral particles involving a hf plasma operated in Ar at several 10−4 Torr is described. The potentialities of the method for quantitative surface analysis are reasoned. Depth profiling by
Publikováno v:
Surface Science. 76:343-354
The sputtering of anodically formed Ta2O5 layers of about 3500 A thickness has been studied by Sputtered Neutral Mass Spectroscopy (SNMS). For perpendicular bombardment with Ar+ ions up to 900 eV the flux of ejected neutral particles is found to cons