Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"E. Mazaleyrat"'
Autor:
J. S. Steckel, E. Josse, A. G. Pattantyus-Abraham, M. Bidaud, B. Mortini, H. Bilgen, O. Arnaud, S. Allegret-Maret, F. Saguin, L. Mazet, S. Lhostis, T. Berger, K. Haxaire, L. L. Chapelon, L. Parmigiani, P. Gouraud, M. Brihoum, P. Bar, M. Guillermet, S. Favreau, R. Duru, J. Fantuz, S. Ricq, D. Ney, I. Hammad, D. Roy, A. Arnaud, B. Vianne, G. Nayak, N. Virollet, V. Farys, P. Malinge, A. Tournier, F. Lalanne, A. Crocherie, J. Galvier, S. Rabary, O. Noblanc, H. Wehbe-Alause, S. Acharya, A. Singh, J. Meitzner, D. Aher, H. Yang, J. Romero, B. Chen, C. Hsu, K. C. Cheng, Y. Chang, M. Sarmiento, C. Grange, E. Mazaleyrat, K. Rochereau
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
E. Mazaleyrat, Sébastien Aufranc, Nicolas Ricard, X. Lefoul, Nicolas Péré-Laperne, Laurent Rubaldo, Gilbert Decaens, Sylvette Bisotto, T. Augey, David Billon-Lanfrey, Olivier Gravrand
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Recent advances in miniaturization of IR imaging technology have led to a growing market for mini thermal-imaging sensors. In that respect, Sofradir development on smaller pixel pitch has made much more compact products available to the users. When t
Autor:
Frédéric Barbier, F. Roy, N. Hotellier, T. Girault, O. LeBorgne, J. P. Reynard, M. Cohen, Didier Herault, A. Gandolfi, Yvon Cazaux, Jérôme Vaillant, Alain Inard, Christophe Cowache, C. Augier, C. Zinck, Yannick Sanchez, E. Mazaleyrat, T. Jagueneau, Jean Michailos, E. Bruno
Publikováno v:
2006 International Electron Devices Meeting.
An innovative process development for sub-2μm CMOS imager sensors is described, leading to tremendous improvements on main pixel parameters like conversion gain, saturation charge, sensitivity, dark current and noise. A full 3MP demonstrator with 1.
Publikováno v:
Proceedings of the 1991 International Conference on Microelectronic Test Structures.
The recent development of BiCMOS and advanced bipolar and merged bipolar CMOS and DMOS technologies requires the enhancement of both models and parameter extraction strategies for the bipolar device. In order to take into account special behavior suc
Publikováno v:
ICMTS 1998. Proceedings of 1998 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.98CH36157).
In deep submicron CMOS and BiCMOS technologies, antenna effects affect the floating gate charge of conventional floating gate test structures, dedicated to capacitor matching measurement. In this paper, a new pseudo-floating gate test structure is de
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.