Zobrazeno 1 - 10
of 45
pro vyhledávání: '"E. Lauga-Larroze"'
Publikováno v:
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2023)
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2023), Mar 2023, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS48203.2023.10117885⟩
IEEELink
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2023), Mar 2023, Monterey, United States. ⟨10.1109/IRPS48203.2023.10117885⟩
IEEELink
International audience; Dynamic off-state stress for RF applications is investigated via integrated test circuits to enable GHz level testing. We have performed characterization of test circuits to ensure the dynamic stress signal waveform integrity,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e8145e89588fe5b7bf9959ddd9fd9338
https://hal.science/hal-04105262
https://hal.science/hal-04105262
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2022)
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2022), IEEE, Mar 2022, Dallas, United States. pp.4B.2-1-4B.2-6, ⟨10.1109/IRPS48227.2022.9764535⟩
IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2022), IEEE, Mar 2022, Dallas, United States. pp.4B.2-1-4B.2-6, ⟨10.1109/IRPS48227.2022.9764535⟩
International audience; Design of reliable and high-performance radiofrequency (RF) power amplifiers (PA) in CMOS technologies is becoming more challenging due to the increasing reliability issues as we approach the scaling limit. To provide insight
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f2f0a1ad5c79ec0c35e254af09504e2c
https://hal.science/hal-04050556
https://hal.science/hal-04050556
Autor:
Philippe Benech, S. Bourdel, E. Lauga Larroze, Xavier Federspiel, R. Lajmi, Florian Cacho, Vincent Huard
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. :92-96
Low Drop-Out (LDO) voltage regulators are extensively used to provide a stable power supply voltage independent of load impedance. LDO must be robust with regard to input voltage, temperature and local mismatch variations. Moreover, it must fulfill t
Autor:
E. Lauga Larroze, S. Bourdel, V. Knopik, R. Lajmi, Philippe Benech, Florian Cacho, P. Cathelin, Xavier Federspiel, J. Lugo
Publikováno v:
2018 International Integrated Reliability Workshop (IIRW).
Due to its high power efficiency, Class A power amplifier (PA) is a good candidate for low-cost, high integration portable communication systems, Bluetooth applications and wireless networks. It's well known that the capability of the power amplifier
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.