Zobrazeno 1 - 10
of 16
pro vyhledávání: '"E. Gebreselasie"'
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 33:331-336
Ti, Co, Pt, and Ni salicide processes optimized for a range of CMOS technology nodes down to 90nm were fabricated using 0.35 $\mu {\mathrm{ m}}$ SiGe BiCMOS. On-wafer circuitry was used to program discrete eFuse elements to compare their pre and post
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4ca91fed5bd30186247ead73ee9f9364
https://doi.org/10.1109/tsm.2020.2991373
https://doi.org/10.1109/tsm.2020.2991373
Autor:
Anthony K. Stamper, M. Shinosky, Alvin W. Strong, James R. Lloyd, F. Chen, Paul S. McLaughlin, Kaushik Chanda, Ravi Achanta, O. Bravo, Sujatha Sankaran, Z.X. He, E. Gebreselasie
Publikováno v:
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium.
The study of low-k TDDB line space scaling is important for assuring robust reliability for new technologies. Although spacing effects due to line edge roughness (LER) on low-k TDDB lifetime were reported previously (Chen et al., 2007; Lloyd et al.,
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::14a40c6fc87174845367130d7d0b6b24
https://doi.org/10.1109/relphy.2008.4558874
https://doi.org/10.1109/relphy.2008.4558874
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.