Zobrazeno 1 - 10
of 91
pro vyhledávání: '"E, Auvray"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
D. Templement, N. Meyer, E. Auvray, M. Sabatini, M. Fore, C. Dussopt, E. Lecuyer, W. Al Sheikh, M. Tiercin, R. Haouachi, T. Saelens, B. Martignac, J.-Y. Tavernier, C. Maurer, H. Ghalloussi-Tebai, A. Belle, C. Vincent, L. Thirard, P. Demontrond, D. Debieuvre
Publikováno v:
Revue des Maladies Respiratoires Actualités. 15:227-228
Autor:
A. Didier, C. Raherison-Semjen, C. Camus, E. Verdier, A. Bourdin, P. Bonniaud, S. Fry, G. Devouassoux, F.X. Blanc, C. Pison, C. Dupin, N. Khayath, J. Courdeau, J. Valcke-Brossollet, C. Nocent-Ejnaini, F. Rolland, C. Iamandi, A. Proust, A. Ozier, L. Portel, W. Gaspard, P. Roux-Claude, A. Beurnier, S. Martinez, J.M. Dot, F. Hennegrave, G. Vignal, E. Auvray, N. Paleiron, N. Just, J. Miltgen, M. Russier, C. Olivier, L. Guilleminault, C. Taillé
Publikováno v:
Revue des Maladies Respiratoires Actualités. 14:31-32
Autor:
Alberto Bosio, Patrick Girard, Luigi Dilillo, E. Auvray, Arnaud Virazel, Zhenzhou Sun, S. Pravossoudovich
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2014, 30 (5), pp.541-555. ⟨10.1007/s10836-014-5481-5⟩
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2014, 30 (5), pp.541-555. ⟨10.1007/s10836-014-5481-5⟩
International audience; The diagnosis is the process of isolating possible sources of observed failures in a defective circuit. Today, manufacturing defects appear not only in the cell interconnection, but also inside the cell itself (intra-cell defe
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S. Barberan, E. Auvray
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 45:1576-1580
This paper presents different methods of preparation to repack dice with a non destructive access to the backside. With new processes, and where backside milling is not possible, this work is mandatory for any fault localisation technique. Various mo
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
ATS
23rd Asian Test Symposium
ATS: Asian Test Symposium
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2014, Hangzhou, China. pp.312-317, ⟨10.1109/ATS.2014.57⟩
23rd Asian Test Symposium
ATS: Asian Test Symposium
ATS: Asian Test Symposium, Nov 2014, Hangzhou, China. pp.312-317, ⟨10.1109/ATS.2014.57⟩
International audience; In this paper, we investigate the generation of diagnostic test vectors targeting the intra-cell defects. Experimental results carried out on an industrial circuit show that we actually increase the diagnosis resolution by add