Zobrazeno 1 - 10
of 55
pro vyhledávání: '"Dworak, Jennifer"'
Autor:
Dworak, Jennifer Lynn
Manufacture testing of digital integrated circuits is essential for high quality. However, exhaustive testing is impractical, and only a small subset of all possible test patterns (or test pattern pairs) may be applied. Thus, it is crucial to choose
Externí odkaz:
http://hdl.handle.net/1969.1/323
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Crouch, Al1 acrouch@asset-intertech.com, Dworak, Jennifer2
Publikováno v:
Electronic Device Failure Analysis. Nov2011, Vol. 13 Issue 4, p4-12. 7p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2015 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFTS); 2015, p119-122, 4p
Autor:
Payakapan, Tassanee, Kan, Senwen, Pham, Ken, Yang, Kathy, Cote, J-F, Keim, Martin, Dworak, Jennifer
Publikováno v:
2015 IEEE International Test Conference (ITC); 2015, p1-10, 10p
Autor:
Dworak, Jennifer, Crouch, Al
Publikováno v:
2015 IEEE 33rd VLSI Test Symposium (VTS); 2015, p1-4, 4p