Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Duriau, Edouard"'
Autor:
Itani, Toshiro, Naulleau, Patrick P., Gargini, Paolo A., Ronse, Kurt G., Brunner, Timothy A., Truffert, Vincent, Ausschnitt, Christopher, Kissoon, Nicola N., Duriau, Edouard, Jonckers, Tom, van Look, Lieve, Franke, Joern-Holger
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; December 2022, Vol. 12292 Issue: 1 p122920A-122920A-12, 12169093p
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(5):1162-1167
Autor:
Brunner, Timothy A., Franke, Joern-Holger, Truffert, Vincent, De Bisschop, Peter, Rispens, Gijsbert, Duriau, Edouard, van Dijk, Andre, Tabery, Cyrus, Rio, David, De Poortere, Etienne, van de Kerkhof, Mark, Hendrickx, Eric
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 12/19/2023, Vol. 12750, p1275006-1275006, 1p
Autor:
Naulleau, Patrick P., Gargini, Paolo A., Itani, Toshiro, Ronse, Kurt G., Brunner, Timothy A., Franke, Joern-Holger, Truffert, Vincent, De Bisschop, Peter, Rispens, Gijsbert, Duriau, Edouard, van Dijk, Andre, Tabery, Cyrus, Rio, David, De Poortere, Etienne, van de Kerkhof, Mark, Hendrickx, Eric
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; November 2023, Vol. 12750 Issue: 1 p1275006-1275006-9
Autor:
Brunner, Timothy A., Truffert, Vincent, Ausschnitt, Christopher, Kissoon, Nicola N., Duriau, Edouard, Jonckers, Tom, van Look, Lieve, Franke, Joern-Holger
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; 9/17/2022, Vol. 12292, p122920A-122920A-12, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.