Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Dunga, Mohan V."'
Autor:
Lu, Darsen D., Dunga, Mohan V., Niknejad, Ali M., Hu, Chenming, Liang, Fu-Xiang, Hung, Wei-Chen, Lee, Jia-Wei, Hsu, Chun-Hsiang, Chiang, Meng-Hsueh
Compact device models play a significant role in connecting device technology and circuit design. BSIM-CMG and BSIM-IMG are industry standard compact models suited for the FinFET and UTBB technologies, respectively. Its surface potential based modeli
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2005.02580
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2011 62(1):31-39
Autor:
Chan, Mansun, Xi, Xuemei, He, Jin, Cao, Kanyu M., Dunga, Mohan V., Niknejad, Ali M., Ko, Ping K., Hu, Chenming
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(3):399-404
Autor:
Chung-Hsun Lin1 linc@us.ibm.com, Dunga, Mohan V.2, Lu, Darsen D.3, Niknejad, Au M.3, Chenming Hu3
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Apr2009, Vol. 56 Issue 4, p595-600. 6p.
Autor:
Dunga, Mohan V.1 dunga@eecs.berkeley.edu, Chung-Hsun Lin1, Xi, Xuemei (Jane)1, Lu, Darsen D.1, Niknejad, Ali M.1, Chenming Hu1
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Sep2006, Vol. 53 Issue 9, p1971-1978. 8p. 6 Black and White Photographs, 4 Diagrams, 12 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.