Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Dukhnin S."'
Publikováno v:
Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature, Iss 5-6, Pp 3-7 (2019)
This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the meas
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/dd7208e4e58c4210bb20449b8b7c26d7
Autor:
Lysiuk, I. O., Golenkov, A. G., Dukhnin, S. E., Reva, V. P., Shevchik-Shekera, A. V., Sizov, F. F.
Publikováno v:
Sensor Electronics and Microsystem Technologies; Том 14, № 3 (2017); 38-46
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 14, № 3 (2017); 38-46
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 14, № 3 (2017); 38-46
Сенсорная электроника и микросистемные технологии; Том 14, № 3 (2017); 38-46
Сенсорна електроніка і мікросистемні технології; Том 14, № 3 (2017); 38-46
В работе рассмотрено приемное устройство для регистрации электромагнитного излучения суб-ТГц/ТГц диапазона спектра, чувствительным эл
Autor:
Golenkov, A. G., Shevchik-Shekera, A. V., Kovbasa, M. Yu., Lysiuk, I. O., Vuichyk, M. V., Korinets, S. V., Bunchuk, S. G., Dukhnin, S. E., Reva, V. P., Sizov, F. F.
Publikováno v:
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics; 2021, Vol. 24 Issue 1, p90-99, 10p
Autor:
Shevchik-Shekera, A. V.1 annashsh82@gmail.com, Dukhnin, S. E.1
Publikováno v:
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics. 2015, Vol. 18 Issue 3, p341-343. 3p.
Autor:
Sizov, F. F., Tsybrii, Z. F., Zabudsky, V. V., Sakhno, M. V., Shevchik-Shekera, A. V., Dukhnin, S. Ye., Golenkov, A. G., Dieguez, E., Dvoretsky, S. A.
Publikováno v:
Semiconductor Physics, Quantum Electronics & Optoelectronics; 2016, Vol. 19 Issue 2, p149-155, 7p