Zobrazeno 1 - 10
of 99
pro vyhledávání: '"Dowsett, M. G."'
Autor:
Chu, D. P., Dowsett, M. G.
We demonstrate the use of maximum entropy based deconvolution to reconstruct boron spatial distribution from the secondary ion mass spectrometry (SIMS) depth profiles on a system of variously spaced boron $\delta$-layers grown in silicon. Sample inde
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9709313
The noise in the depth profiles of secondary ion mass spectrometry (SIMS) is studied using different samples under various experimental conditions. Despite the noise contributions from various parts of the dynamic SIMS process, its overall character
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9610061
Autor:
Dowsett, M. G., Collins, R.
Publikováno v:
Philosophical Transactions: Mathematical, Physical and Engineering Sciences, 1996 Nov . 354(1719), 2713-2729.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/54737
Autor:
Morris, R. J. H., Dowsett, M. G.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Jun2009, Vol. 105 Issue 11, p114316-1-114316-9, 9p, 1 Color Photograph, 3 Black and White Photographs, 2 Charts, 7 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/1/1986, Vol. 60 Issue 7, p2573, 7p, 1 Diagram, 7 Graphs
Autor:
Willoughby, A. F. W., Evans, A. G. R., Champ, P., Yallup, K. J., Godfrey, D. J., Dowsett, M. G.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 4/1/1986, Vol. 59 Issue 7, p2392, 6p, 5 Charts, 5 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; Nov1983, Vol. 54 Issue 11, p6340-6345, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.