Zobrazeno 1 - 10
of 21
pro vyhledávání: '"Dorovskikh, Roman S."'
Investigation of the effectiveness of radiation fog destruction by high-intensity ultrasonic action.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2024, Vol. 3102 Issue 1, p1-7, 7p
Autor:
Dorovskikh, Roman S., Puzhaykina, Anna E., Tertishnikov, Pavel P., Shalunov, Andrey V., Nesterov, Victor A.
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2024, Vol. 3102 Issue 1, p1-7, 7p
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2024, Vol. 2969 Issue 1, p1-5, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
KHMELEV, Vladimir N., GOLYKH, Roman N., PEDDER, Valery V., NESTEROV, Viktor A., BOBROVA, Galina A., SHAKURA, Vladislav A., DOROVSKIKH, Roman S.
Publikováno v:
Romanian Journal of Acoustics & Vibration; 2017, Vol. 14 Issue 2, p85-90, 6p
Autor:
Pedder, Valery V., Khmelev, Vladimir N., Shalunov, Andrey V., Nesterov, Viktor A., Dorovskikh, Roman S., Golykh, Roman N.
Publikováno v:
2015 16th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies & Electron Devices; 2015, p253-261, 9p
Autor:
Khmelev, Vladimir N., Shalunov, Andrey V., Nesterov, Viktor A., Dorovskikh, Roman S., Golykh, Roman N.
Publikováno v:
2015 16th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies & Electron Devices; 2015, p224-228, 5p
Autor:
Khmelev, Vladimir N., Shalunov, Andrey V., Dorovskikh, Roman S., Golykh, Roman N., Nesterov, Viktor A.
Publikováno v:
2015 16th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies & Electron Devices; 2015, p213-217, 5p
Autor:
KHMELEV, Vladimir N., GOLYKH, Roman N., ILCHENKO, Evgeniy V., SHAKURA, Vladislav A., NESTEROV, Viktor A., DOROVSKIKH, Roman S.
Publikováno v:
Romanian Journal of Acoustics & Vibration; 2016, Vol. 13 Issue 1, p35-41, 7p, 7 Graphs
Autor:
Khmelev, Vladimir N., Shalunov, Andrey V., Nesterov, Viktor A., Golykh, Roman N., Dorovskikh, Roman S.
Publikováno v:
2014 15th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies & Electron Devices (EDM); 2014, p233-239, 7p