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Dissertation/ Thesis

Caractérisation des défauts cristallins au MEB par canalisation d'électrons assistée par diagrammes pseudo-Kikuchi haute résolution : application à l'acier IF, UO2 et TiAl

Autor: Mansour, Haithem

La technique Imagerie par Contraste de Canalisation d'Electron (ECCI) est utilisée en microscopie électronique à balayage (MEB) pour visualiser et caractériser des défauts cristallins tels que les dislocations. L’ECCI nécessite l'orientation,

Externí odkaz: http://www.theses.fr/2016LORR0311/document

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Characterization of crystallographic defects in SEM by electron channeling assisted by high resolution pseudo-Kikuchi patterns : application to IF-steel, UO2 and TiAl

Autor: Mansour, Haithem

Publikováno v: Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]. Université de Lorraine, 2016. Français. ⟨NNT : 2016LORR0311⟩

Electron Channeling Contrast Imaging (ECCI) is a Scanning Electron Microscope (SEM) technique used to observe and characterize crystallographic defects. ECCI requires the crystal to be oriented relative to the electron beam with high accuracy (0.1°)

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https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01611807/document

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