Zobrazeno 1 - 4 of 4 pro vyhledávání: '"Dolhov, S."'
1
Akademický článek
Interpretation of minority carrier diffusion length measurements in thin silicon wafers
Autor: Toušek, J. *, Dolhov, S., Toušková, J.
Publikováno v: In Solar Energy Materials and Solar Cells 2003 76(2):205-210
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Improved photovoltaic method for measurement of minority carrier diffusion length applied to silicon solar cells
Autor: Toušek, J. *, Kindl, D., Toušková, J., Dolhov, S.
Publikováno v: In Solar Energy Materials and Solar Cells 2001 69(3):297-302
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Diffusion length in CdTe by measurement of photovoltage spectra in CdS/CdTe solar cells.
Autor: Tousek, J., Kindl, D., Tousková, J., Dolhov, S., Poruba, A.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 1/1/2001, Vol. 89 Issue 1, p460, 6p, 1 Diagram, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Improved photovoltaic method for measurement of minority carrier diffusion length to silicon solar cells.
Autor: Tougek, J., Kindl, D., Tougková, J., Dolhov, S.
Publikováno v: Solar Energy Materials & Solar Cells. Oct2001, Vol. 69 Issue 3, p1. 1p.
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje