Zobrazeno 1 - 6
of 6
pro vyhledávání: '"Doan, Jonathan C."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2000 40(6):981-990
Autor:
Lee, Seok-Hee, Bravman, John C., Doan, Jonathan C., Lee, Samantha, Flinn, Paul A., Marieb, Thomas N.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 3/15/2002, Vol. 91 Issue 6, p3653, 5p, 8 Black and White Photographs, 1 Graph
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; Nov1999, Vol. 491 Issue 1, p15-26, 12p
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; Dec1999, Vol. 563 Issue 1, p103-108, 6p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.