Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Diokh, T."'
Autor:
Cabout, T., Perniola, L., Jousseaume, V., Grampeix, H., Nodin, J.F., Toffoli, A., Guillermet, M., Jalaguier, E., Vianello, E., Molas, G., Reimbold, G., de Salvo, B., Diokh, T., Candelier, P., Pirrotta, O., Padovani, A., Larcher, L., Bocquet, Marc, Muller, Christophe
Publikováno v:
2013 5th IEEE International Memory Workshop (IMW)
2013 5th IEEE International Memory Workshop (IMW), May 2013, Monterey, United States. ⟨10.1109/IMW.2013.6582112⟩
2013 5th IEEE International Memory Workshop (IMW), May 2013, Monterey, United States. ⟨10.1109/IMW.2013.6582112⟩
International audience; This paper provides an overview of the temperature impact (up to 200 °C) on the electrical behavior of oxide-based RRAM, during forming, low-field resistance reading, SET/RESET, disturb, data retention and endurance. HfO 2-RR
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::4395bc1afea1a23978b273d30055b0a5
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01738426/file/Caout.2013.IMW.Temperature_impact_on_performance_and_reliability_of_HfO2_based_RRAMs.pdf
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01738426/file/Caout.2013.IMW.Temperature_impact_on_performance_and_reliability_of_HfO2_based_RRAMs.pdf
Autor:
Cabout, T., Perniola, L., Jousseaume, V., Grampeix, H., Nodin, J. F., Toffoli, A., Jalaguier, E., Vianello, E., Molas, G., Reimbold, G., De Salvo, B., Pirrotta, Onofrio, Padovani, Andrea, Larcher, Luca, Diokh, T., Candelier, P., Guillermet, M., Bocquet, M., Muller, C.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3674::f0160b986ab3511ef57a3fde27d1f3d6
https://hdl.handle.net/11380/924093
https://hdl.handle.net/11380/924093
Autor:
Diokh, T., Le-Roux, E., Jeannot, S., Candelier, P., Perniola, L., Nodin, J. F., Jousseaume, V., Cabout, T, Grampei, H., Jalaguier, E., De Salvo, B.
Publikováno v:
2013 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report; 2013, p106-109, 4p
Autor:
Vianello, E., Thomas, O., Harrand, M., Onkaraiah, S., Cabout, T., Traore, B., Diokh, T., Oucheikh, H., Perniola, L., Molas, G., Blaise, P., Nodin, J. F., Jalaguier, E., De Salvo, B.
Publikováno v:
Proceedings of 2013 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT); 2013, p235-238, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Diokh, T., Le-Roux, E., Jeannot, S., Gros-Jean, M., Candelier, P., Nodin, J.F., Jousseaume, V., Perniola, L., Grampeix, H., Cabout, T., Jalaguier, E., Guillermet, M., De Salvo, B.
Publikováno v:
2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS); 2013, p5E.4-5E.4-5E.4.4, 0p
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.