Zobrazeno 1 - 10
of 416
pro vyhledávání: '"Ding, SJ"'
Publikováno v:
Journal of Inflammation Research, Vol Volume 17, Pp 211-222 (2024)
Da-Li Xu,1 Xiao-Mei Zhang,2 Xue-Ying Tian,2 Xian-Jun Wang,2 Lin Zhao,1 Meng-Ying Gao,1 Lian-Feng Li,1 Jia-Qi Zhao,1 Wu-Chun Cao,1,3,* Shu-Jun Ding2,* 1Department of Epidemiology, School of Public Health, Cheeloo College of Medicine, Shandong
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/fd098da432e84ff6bc57d5ffee1e6247
Publikováno v:
Journal of Pain Research, Vol Volume 12, Pp 1359-1369 (2019)
Tian-Hong Zhu,1 Gen Zou,1 Shao-Jie Ding,1 Tian-Tian Li,1 Li-Bo Zhu,1 Jian-Zhang Wang,1 Yong-Xing Yao,2 Xin-Mei Zhang11Department of Obstetrics and Gynecology, Women’s Hospital, Zhejiang University School of Medicine, Hangzhou, People’s Republic o
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/69397eaa09e34bb88e5792a1f9c6aea2
Publikováno v:
Applied physics letters 92 (2008).
info:cnr-pdr/source/autori:Lu, HL; Scarel, G; Alia, M; Fanciulli, M; Ding, SJ; Zhang, DW/titolo:Spectroscopic ellipsometry study of thin NiO films grown on Si (100) by atomic layer deposition/doi:/rivista:Applied physics letters/anno:2008/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine:/volume:92
info:cnr-pdr/source/autori:Lu, HL; Scarel, G; Alia, M; Fanciulli, M; Ding, SJ; Zhang, DW/titolo:Spectroscopic ellipsometry study of thin NiO films grown on Si (100) by atomic layer deposition/doi:/rivista:Applied physics letters/anno:2008/pagina_da:/pagina_a:/intervallo_pagine:/volume:92
Thin NiO films are grown at 300 degrees C on Si (100) using atomic layer deposition. The dependence of annealing temperature on the optical properties of NiO films has been investigated using spectroscopic ellipsometry in the spectral region of 1.24-
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=cnr_________::ff574a26a66823c6174fa22d2cc1f28c
https://publications.cnr.it/doc/2766
https://publications.cnr.it/doc/2766
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.