Zobrazeno 1 - 10
of 410
pro vyhledávání: '"Dilhaire, S."'
Autor:
Burcea, R., Barbot, J. -F., Renault, P. -O., Eyidi, D., Girardeau, T., Marteau, M., Giovannelli, F., Zenji, A., Rampnoux, J-M., Dilhaire, S., Eklund, P., Febvrier, A. Le
Nowadays, making thermoelectric materials more efficient in energy conversion is still a challenge. In this work, to reduce the thermal conductivity and thus improve the overall thermoelectric performances, point and extended defects were generated i
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2203.13227
Publikováno v:
In International Journal of Heat and Mass Transfer 1 December 2024 234
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Phys. Rev. Lett. 112, 193903 (2014)
In this work, we study the heat dissipated at metal surfaces by the electromagnetic field scattered by isolated subwavelength apertures in metal screens. In contrast to our common belief that the intensity of waves created by local sources should dec
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1401.2147
Autor:
Grauby, S., Lopez, L. -D. Patino, Salhi, A., Puyoo, E., Rampnoux, J. -M., Claeys, W., Dilhaire, S.
Publikováno v:
Dans 13th International Worshop on THERMal INvestigations of ICs and Systems - THERMINIC 2007, Budapest : Hongrie (2007)
We have studied the electrically induced off-plane surface displacement on two microelectronic devices using Scanning Joule Expansion Microscopy (SJEM). We present the experimental method and surface displacement results. We show that they can be suc
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0801.1041
Autor:
Gomès, S., Chapuis, Po, Nepveu, F., Trannoy, N., Volz, S., Charlot, B., Tessier, Gilles, Dilhaire, S., Cretin, Bernard, Vairac, Pascal
Publikováno v:
IEEE Transactions on Components and Packaging Technologies 30, 3 (2007) 424-431
Surface temperature measurements were performed with a Scanning Thermal Microscope mounted with a thermoresistive wire probe of micrometrSurface temperature measurements were performed with a Scanning Thermal Microscope mounted with a thermoresistive
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0711.4530
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 8/14/2020, Vol. 128 Issue 6, p1-9, 9p, 3 Diagrams, 1 Chart, 6 Graphs