Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Dielectrics. Hafnium oxide. Gate array circuits."'
1
Charge trapping effects on mobility and threshold voltage instability in high-k gate stacks
Autor: Sim, Jang Hoan.
Thesis (Ph. D.)--University of Texas at Austin, 2005.
Vita. Includes bibliographical references.
Externí odkaz: http://repositories.lib.utexas.edu/bitstream/handle/2152/2316/simj93236.pdf
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje