Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Dielectrics characterization"'
Autor:
Soon-oh Park, C. Smith, K. Ryu, Umberto Celano, Y. Lee, P. van der Heide, J. Serron, Jo-Won Lee, Jacopo Franco, Jong M Kim, Moon-Deock Kim
Publikováno v:
Solid-state electronics, 185:108136. Elsevier
We report on a quantitative use of Kelvin probe force microscopy (KPFM) for the analysis of charge injection in thin oxides. Here, thin dielectrics are investigated through an atomic force microscopy tip that is used as a movable (virtual) top-electr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::937406e4bcf72a08f56061cd47b15116
https://doi.org/10.1016/j.sse.2021.108136
https://doi.org/10.1016/j.sse.2021.108136
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.