Zobrazeno 1 - 10
of 196
pro vyhledávání: '"Diebold, A.C."'
Autor:
Kong, LayWai, Rudack, Andrew C., Krueger, Peter, Zschech, Ehrenfried, Arkalgud, Sitaram, Diebold, A.C.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering April 2012 92:24-28
Publikováno v:
In Thin Solid Films 28 February 2011 519(9):2929-2932
Autor:
Mukundan, V., Consiglio, S., Triyoso, D.H., Tapily, K., Schujman, S., Mart, C., Kämpfe, T., Weinreich, W., Jordan-Sweet, J., Clark, R.D., Leusink, G.J., Diebold, A.C.
In this Letter, we report the percentage of the ferroelectric phase in a 10-nm-thick Hf0.5Zr0.5O2 (HZO) film deposited in a metal-insulator-metal stack by atomic layer deposition. The ferroelectric behavior was confirmed by polarization measurements
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::48e7fc73e4c9162e28142079e7aa17b5
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/266394
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/266394
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Diebold, A.C.
Publikováno v:
In Encyclopedia of Materials: Science and Technology 2011:5559-5569
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.